Details zur Ausschreibung

Titel:
NL-Petten: Lieferung und Wartung eines Zweistrahl-Plasma fokussierten Ionenstrah...
Öffentlicher Auftraggeber:
European Commission, Joint Research Centre - Petten (JRC-PTT)
Datum der Veröffentlichung im TED:
03/06/2019
Frist für den Eingang von Angeboten:
18/07/2019
Status:
Geschlossen
Informationen
JRC/PTT/2019/OP/1257
NL-Petten: Lieferung und Wartung eines Zweistrahl-Plasma fokussierten Ionenstrahls-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (Dual Beam Plasma Focused Ion Beam Field Emission Scanning Electron Microscope - pFIB - SEM)
Um eine kontaminationsfreie großflächige Probenvorbereitung vor Ort und Aufnahmen mit hoher Auflösung und Analyse durchzuführen, plant die JRC Petten den Kauf eines Zweistrahl-Mikroskops (pFIB-SEM) mit einem induktiv gekoppelten Plasma als Ionenstrahlquelle (pFIB) und einem Feldemissions-Elektronenstrahl als Quelle für die Elektronenabbildung. Die pFIB/SEM-Infrastruktur wird wissenschaftliche Aktivitäten im Bereich der nuklearen Sicherheit und der medizinischen Anwendungen der Nuklearwissenschaften unterstützen. Zu diesem Zweck wird das System energiedispersive Röntgenstrahl (EDX)-, Elektronenrückstreubeugungs (EBSD)- und Raster-Durchstrahlungs-Elektronenmikroskop (STEM)-Detektoren umfassen und die Mikrobearbeitung von mikromechanischen Proben, die Herstellung von TEM-Lamellen aus Metallen und biologischen Materialien sowie die 3D-Rekonstruktion von anorganischen Materialien und Zellen ermöglichen.
Lieferaufträge
Offenes Verfahren
Geschlossen
Ausgewählt
Bestes Preis-Leistungs-Verhältnis
38510000
NL328
Additional CPV Supplementary CPV
38512100
Abschnitte
03/06/2019 00:00
18/07/2019 16:00
19/07/2019 15:00
Lose Die Ausschreibung ist nicht in Lose unterteilt.
Bekanntmachungen
Referenz Bekanntmachungstyp Veröffentlichungsdatum
2019/S 114-278796 Berichtigung 17/06/2019 00:00
2019/S 109-264184 Berichtigung 07/06/2019 00:00
2019/S 105-254383 Auftragsbekanntmachung 03/06/2019 00:00