Pakkumiskutse andmed

Pealkiri:
NL-Petten: Plasmale fokuseeritava kahekiirelise ioonkiirega – väljaemissiooni sk...
Tellija:
European Commission, Joint Research Centre - Petten (JRC-PTT)
TEDis avaldamise kuupäev:
03/06/2019
Pakkumuste vastuvõtmise tähtaeg:
18/07/2019
Olek:
Suletud
Informatsioon
JRC/PTT/2019/OP/1257
NL-Petten: Plasmale fokuseeritava kahekiirelise ioonkiirega – väljaemissiooni skaneeriva elektronmikroskoobi (Plasma Focused Ion Beam — Field Emission Scanning Electron Microscope (pFIB – SEM)) tarne ja hooldus
Teadusuuringute Ühiskeskuse Petteni asutus kavatseb osta kohapeal peal suure ala saastevaba proovide ettevalmistamise ning peeneraldusvõimega pildistuse ja analüüsi teostamiseks kahekiirelise mikroskoobi (Dual Beam microscope (pFIB-SEM)), mille eriomadusteks on induktiivselt paaristatud plasma ioonkiire allikana (pFIB) ja väljaemissiooni elektronkiir elektroonilise pildistuse allikaks. pFIB/SEMi taristu toetab tuumaohutuse ja tuumateaduse meditsiiniliste rakenduste alast teadustegevust. Sel otstarbel hõlmab süsteem energiat hajutavat röntgenikiirt (energy dispersive x-ray (EDX)), elektroni 180° hälvitusega difraktsiooni (Electron Backscatter Diffraction (EBSD)) ja skaneeriva läbivkiirguse elektronmikroskoobi (STEM)) andureid ning võimaldab peenmehaaniliste proovide peenmehaanilist töötlemist, elektronmikroskoobile metallide ja bioloogiliste materjalide liistakute ettevalmistamist, ning anorgaaniliste materjalide ja rakkude kolmemõõtmelist rekonstruktsiooni.
Tarned
Avatud menetlus
Suletud
Märgitud
Parim hinna ja kvaliteedi suhe
38510000
NL328
Additional CPV Supplementary CPV
38512100
Tähised
03/06/2019 00:00
18/07/2019 16:00
19/07/2019 15:00
Osad Pakkumiskutsel puuduvad osad.
Teated
Viide Teate liik Avaldamise kuupäev
2019/S 114-278796 Parandus 17/06/2019 00:00
2019/S 109-264184 Parandus 07/06/2019 00:00
2019/S 105-254383 Hanketeade 03/06/2019 00:00