Informacije

Referentni broj ponude	JRC/PTT/2019/OP/1257
Naziv	NL-Petten: Nabava i održavanje fokusiranog snopa iona na dvosnopnoj plazmi — skenirajući elektronski mikroskop s emisijom polja (pFIB — SEM)
Opis	Kako bi se izvršila priprema uzoraka velike površine bez kontaminacije „in-Situ“ i snimanje u visokoj rezoluciji i analiza, JRC Petten planira kupiti dvosnopski mikroskop (pFIB-SEM) s induktivno vezanom plazmom kao izvorom ionskog snopa (pFIB) i elektronskim snopom s emisijom polja kao izvorom za snimanje elektrona. Infrastruktura pFIB/SEM će pružiti potporu znanstvenim aktivnostima u području nuklearne sigurnosti i u području medicinske primjene nuklearne znanosti. U tu svrhu, sustav će uključivati detektore energijskih disperzivnih rendgenskih zraka (energy dispersive x-ray — EDX), detektore elektronske difrakcije povratnim raspršenjem elektrona (electron back scattered diffraction detector — EBSD) i detektore skenirajućeg-prijenosnog elektronskog mikroskopa (STEM) te omogućiti mikro-strojnu obradu mikro-mehaničkih uzoraka, lamelarnu pripremu metala i bioloških materijala pomoću TEM-a i 3D rekonstrukcije anorganskih materijala i stanica.
Vrsta ugovora	Isporuke
Vrsta postupka	Otvoreni postupak
Status	Zatvoreno
Objavljeno na TED-u
Metoda dodjele	Najbolji omjer cijene i kvalitete
Main CPV	38510000
NUTS	NL328

Additional CPV	Supplementary CPV
38512100

Etape

Datum objave na TED-u	03/06/2019 00:00
Rok za pitanja	N/A
Rok za odgovor	N/A
Rok za primitak ponuda	18/07/2019 16:00
Uvjeti za otvaranje ponuda (datum)	19/07/2019 15:00

Grupe

Poziv na dostavu ponuda nema grupa.

Obavijesti

Uputa	Vrsta obavijesti	Publication date
2019/S 114-278796	Ispravak	17/06/2019 00:00
2019/S 109-264184	Ispravak	07/06/2019 00:00
2019/S 105-254383	Poziv na nadmetanje	03/06/2019 00:00